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产品分类 / PRODUCT
膜厚计是测量涂漆表面厚度的测量仪器。
彩绘物体以各种形态存在于我们身边,如家电、汽车、路标、护栏等。
油漆涂得太多不仅浪费油漆,而且还会造成裂缝。
另一方面,如果涂料用量太少,则会因基体暴露而造成变色、光泽变差,甚至生锈。
因此,在涂装过程中控制膜厚非常重要,并且使用膜厚计来测量膜厚。
光谱干涉膜厚测量装置
用宽波长带的光照射测量对象,根据从正面和背面反射的光的干涉强度光谱来测量膜厚。
膜厚可以通过测定结果除以测定对象物的折射率来求出。
在多层膜的情况下,可以通过干涉在每个膜之间的界面处反射的光来测量每个膜的厚度。
电磁膜厚计
当探头与测量对象接触时,磁通密度根据磁铁“拉力"的强度而变化,根据流过测量对象的电流量的变化来测量膜厚。电磁铁。可以测量在时间金属基材上涂覆或衬里的涂膜(非磁性金属层、无机层、有机层)的膜厚度。
- 如果涂层很薄,探头和基材之间的距离很近,因此流过探头磁铁的电流会很大。
- 如果漆膜较厚,探头与基材之间的距离会变长,流过电磁铁的电流量的变化会变小。
利用探针处磁铁的拉力与到基材的距离成正比的特性来计算薄膜厚度。
如果漆膜已经具有磁性,则无法进行准确的膜厚测量。
底座:铁、钢、铁素体不锈钢等磁性材料
涂膜:电镀、油漆、树脂膜等非磁性材料。
渦電流式膜厚計
通过触摸包含线圈的探针并测量通电时产生的涡流来测量薄膜厚度。
- 如果薄膜较薄,探头与基材之间的距离较近,因此在金属表面产生的涡流较强。
- 如果漆膜较热,则探头与基材之间的距离会较远,因此数值会较弱。
利用金属表面产生的涡流值与到基材的距离成正比的性质来计算膜厚。
涡流膜厚计分为通过涡流的振幅测量膜厚的“接触式"和通过涡流的相位差测量膜厚的“非接触式"。
使用涡流膜厚计的条件是涂膜是不导电的绝缘膜。
底座:非磁性金属,如铝或铜
涂膜:塑料、树脂、橡胶等绝缘膜。
赤外線膜厚計
基于通过用红外线照射测量目标并分析透射光(或反射光)而获得的光谱来测量膜厚度。
当漆膜受到红外线照射时,根据漆膜的材料和厚度,在特定波长下会发生红外线吸收现象。
根据漆膜所用材料的“吸收率与膜厚的关系",可以计算出被测物体的膜厚。
在需要实时测量结果的现场,通常采用3波长法来减少与膜厚测量不直接相关的因素的影响(例如光源的波动、测量目标颜色的浑浊、 ETC。)。
超音波膜厚計
将探头与待测物体接触,根据传感器发射的超声波从基材反射并返回所需的时间来测量薄膜厚度。
使用超声波膜厚计测定的膜厚如下求出。
D=1/2×C×t
D:膜厚(m),C:测量目标的声速(m/s),t:超声波来回传播到测量目标的时间(s)
针对每种材料确定测量目标的声速近似值。然而,即使是相同的材质,不同的类型也会造成声速的差异。因此,在使用超声波膜厚计时,需要根据实际的测量对象进行调整(校准)。
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